一、可修复的典型情况

硬件接触或老化问题

接线端子氧化 / 松动：长期使用后，测试桩门内部接线端子可能因氧化、锈蚀导致接触电阻增大，影响信号传输精度。此时可通过砂纸打磨端子、重新紧固接线，或更换镀金端子解决，恢复信号通路的稳定性。

参比电极失效：内置参比电极（如铜 / 硫酸铜电极）若因电解液干涸、壳体破损导致电位漂移，可直接更换同型号参比电极（需注意与原电路的兼容性），更换后通过标准电位源校准即可恢复精度。

电容 / 电阻老化：电路中滤波电容容量衰减、精密电阻阻值漂移会导致测量偏差，通过万用表检测故障元件后，替换为同规格高精度元件（如 0.1% 精度电阻），可修复电路性能。

环境干扰导致的临时偏差

电磁屏蔽失效：若因屏蔽层破损、接地不良引入电磁干扰，可重新包裹屏蔽层、加固接地装置（接地电阻需≤4Ω），并在电路输入端增加磁珠、滤波器等抗干扰元件，降低外界电磁影响。

温度补偿模块故障：温度传感器失灵或补偿算法错误会导致温漂误差，更换高精度 NTC 温度传感器，或通过固件升级修正补偿公式，可恢复温度适应性。

二、修复难度较高或不可修复的情况

核心芯片损坏

若 24 位 ADC 芯片、微处理器（MCU）因雷击、过压烧毁，或内部电路击穿，可能导致无法读取信号或量化误差剧增。此类情况需更换同型号芯片，但需匹配引脚定义和固件程序，若芯片停产或编程接口损坏，则难以修复，可能需要更换整个主板。

结构件不可逆损伤

外壳因物理撞击变形、密封失效，导致内部电路长期受潮腐蚀，出现大面积焊点氧化、PCB 板铜箔锈蚀断裂。若电路损伤范围超过 30%，修复成本可能高于更换新设备，此时建议整体更换测试桩门。